POPPUR爱换

标题: 研究发现硬盘无故障时间指标被夸大！ [打印本页]

作者: jeff318 时间: 2007-3-5 17:51
标题: 研究发现硬盘无故障时间指标被夸大！
卡内基梅隆大学在旧金山的第五届USENIX Conference大会上提出了自己对约10万块硬盘进行研究后得出的结论，这些结论不仅将使得硬盘厂商们可以改进产品设计，而且对我们的使用和购买硬盘产品也有不小的帮助。

　　他们研究认为，硬盘的“平均无故障时间”即MTTF指标都被夸大了，一般硬盘都标志MTTF为几百万小时，但是他们得出的结论是硬盘产品的实际失效几率是MTTF指标的15倍之多。如果按照MTTF为100-150万小时计算，那么即使在最坏的情况下，硬盘每年的失效率不过0.88％，但卡内基梅隆大学的研究人员在研究了各种大型生产系统、互联网服务网站等地的硬盘后发现，实际数字一般都会超过1％，通常在2-4％左右，在某些极端情况下甚至高达13％以上，甚至24％。

　　研究得出的结论还有：

更快、更贵的光纤通道硬盘并不一定就比普通SATA硬盘更可靠；
一半左右的返修硬盘实际上都没有任何问题，分析人士和硬盘厂商也有类似观点；
温度因素对硬盘可靠性的影响其实是微乎其微的。

小知识：MTBF为平均失效间隔时间，定义为失效或维护中所需要的平均时间；MTTF：失效前平均时间，定义为随机变量、出错时间等的“期望值”；MTTR：平均恢复前时间，定义为随机变量恢复时间得期望值；MTBF = MTTF + MTTR (MTTR通常远小于MTTF，所以MTBF近似等于MTTF)

欢迎光临 POPPUR爱换 (https://we.poppur.com/)