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贴个我的SSD信息,lz可以参考。
C3为0,就是没有发生过可纠正错误。
C4为361,是说出厂时有361个坏块。
看lz的图,C3比较大,说明使用过程中成功纠正过很多错误。
C4为0,推测是说出厂后没有产生新坏块。
//C3就是说读取中发生过的bit翻转,但这些是可以就的
//C4就是坏块数,有的厂商统计所有坏块数(NAND出厂前坏块+新增坏块),有的厂商要求只统计新增坏块数
可以看出我的SSD统计了所有坏块,而lz的SSD只统计了新增坏块。
业界是喜欢只统计新增坏块,因为NAND出厂前坏块受NAND厂商影响很大。而新增坏块可以直观的反映出SSD出厂后坏块的增长情况。
统计所有坏块的好处,就是可以知道NAND出厂前的坏块情况,可以反映NAND本身的质量情况。SSD出厂后坏块的增长,就要求细心的用户自己观察了。
比如我这个SSD,有361个NAND原厂坏块,而上面有32块颗粒。每个颗粒有4096个块。
NAND原厂坏块率为361/(32*4096)= 0.28%,业界标准是2%,
细心的用户会发现,某厂把坏块率低的NAND颗粒贴在了自家的SSD上。
当然它卖给其他SSD厂商的坏块率到底是高还是低,就没人知道了。
有人说他的C300 256G上有更低的坏块率,不知真伪。
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