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很久很久以前,IBM在研究下一代工艺的时候,发现异性Hf-Si-O最小转置周期放倒CVD(Intel用的PVD,不在讨论范围之列)里面要起码700pm,根本不够45nm用
所以,IBM在YY Hf-Si-O体系的时候,roadmap还是定得比较长,45nm以后才用。IBM体系的65nm和45nm制程,就靠现有工艺硬顶,AMD自然跟着一起倒霉
AMD一直比较被动,就问伯克利,能不能通过退火修复沟槽,伯克利笑了:Intel已经和我们一起弄这个2年了
实际上,单纯的RTA和闪光退火IBM都有积累,但这两个工艺单拿出来都是有害的。RTA机械性能好但不利扩散掺杂,闪光退火的氧空位有利扩散,但氧空位本身会严重毁坏机械性能
AMD本来是跟着IBM,等到45nm以后才用Hf-Si-O,现在却等不及了。开始和伯克利合作,搞RTA+闪光退火。
将Hf-O系通过LPCVD预沉积到SiO2上形成过渡层,进而在此层之上沉积Si。沉积完成后进行6毫秒的RTA,出来的样品进行掺杂,然后在对应气氛保护下补一个3毫秒1200度的闪光退火
闪光退火带来了极多的氧空位,这些氧空位是界面问题的根源,但这些空位在基体中却也刚好形成相当好的缺陷扩散机制,而通过扩散来弥合界面一直是IBM梦寐以求的结局.............
之后的故事,就不用多说了,肥龙II的栅氧层终于用上了INTEL 2年前开始使用的工艺,大家有空可以去看看肥龙II频率刷新的速度 :a)
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[ 本帖最后由 Asuka 于 2008-12-27 19:04 编辑 ] |
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