i.hub压降解析，对“关于USB口带移动硬盘的的那点事儿”的一点补充

newcathay

之前在 http://we.pcinlife.com/thread-1056986-1-1.html “关于USB口带移动硬盘的的那点事儿”中提到“由于i.hub.4要考虑电源的隔离，又多了一个电路，这个电路有50毫欧的内阻，也就是说在1A的电压下，有0.05V的压降，同30cm的线在1A电流下0.26V的压降相比，大约相当于多了6cm长的线，如果真要比较带动移动硬盘的能力，那么相对其他的HUB来说，也就是多了这6cm的等效线长而已！ ” 在这里给大家道个歉，因为这段话是基于理论上的分析，想当然的认为是这样，而疏于实测。而测试时因是带四个硬盘测试，都有外电源供电，对通过总线供电的单硬盘供电测试不足，导致上述这段话过于理想化，同实际的效果有出入。
正确的表述应改为：由于i.hub.4对整体电路的保护考虑过多，在供电上有双电源的隔离、可恢复保险丝和高频滤波三重电路保证供电的安全和纯净，但忽略了每个电路实际带来的压降，导致在总线供电（也就是不外接电源，仅通过USB线缆从计算机中取电）这种情况下，大电流设备（移动硬盘）启动时压降过多，减弱了带动移动硬盘的能力。
那么我们先来看一下我们的问题出在什么地方：
在先前的计算中，我们仅计算了双电源隔离电路的压降，

此隔离电路差不多有50毫欧的等效电阻，现在硬盘超过1A启动电流的比比皆是，我们假设启动电流为1A，那么此时在此电路

上的压降为0.05V。
先前我们仅计算了此电路的压降，而实际上，其他两个电路也都有压降，被我们忽略掉了。一个是高频滤波电路，见下图红框：

PCB示意图，磁珠用红框标注

图示的磁珠电路所用的磁珠是台湾JW的2A 600欧磁珠，经查其DC电阻为70毫欧，实际测试也差不多,也就是说在1A电流下其电阻压降为0.07V，由于电流要流经入口和出口两个USB口，所以此时的压降为0.07x2=0.14V。这个DC电阻已算做得不错的了，我们来看看日本村田的磁珠的DC电阻，

由上表可看出，村田的0805的大电流磁珠做不到600欧，但从其随高频电阻增加而DC电阻增加的趋势看，其330欧的磁珠DC电阻已达到90毫欧，已超过我们现在所采用的磁珠，更不用说即使其能做到600欧的了。所以说，这个压降在这里已算很低的了。
我们再看看PCB示意图中的紫框标注的可恢复保险丝PPTC，经实测，其压降为0.03v，也就是说其电阻为30毫欧。
另外一个考虑疏漏的地方则是PCB电路引入的压降，经测试，在1A电流下，PCB上的压降为0.06V，也就是60毫欧的等效电阻
综合以上四点：双电源隔离、高频滤波、可恢复保险丝、PCB电路四个方面的压降，在1A电流情况下，其压降达到
0.05+0.14+0.03+0.06=0.28V ，相当于一条1.8m的24/28镀锡铜的压降。而不是我们之前预想的0.05V。所以，相对于一般hub一根铁丝直连的方式，i.hub.4所采用的三重保护电路的带移动硬盘的能力大打折扣。但我们认为这三重电路，对于设备的稳定和安全的运行，不可或缺，而且通过hub外接电源可弥补这三重电路所带来的影响，因为我们测试中加外接电源带动四个移动硬盘没什么问题。在后续的设计中，我们可能会通过设计上的一些变化来弥补这里压降的影响，但是从我们的设计思路来说，先满足稳定和安全方面的设计，然后才是能否带动移动硬盘这些大电流设备。
在这里也谢谢在家对我们的支持，对于我们测试上的不足，深感歉意！

文中所提到的“关于USB口带移动硬盘的的那点事儿”链接为： http://we.pcinlife.com/thread-1056986-1-1.html

tx4587

写的真好啊！！
就是没看懂！！！！！