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良率不高是和RTA条件不当和次生关联效应有关的,在现代工艺中完全不用RTA是不可能的,这是常识,正如你上面所引述的,RTA除了能激活注入掺杂,还能实现低阻Si金属化,调节S/D-ext浅结界面, 修复缺陷损伤,以及改变沟 ...
AN_Fusion 发表于 2009-5-8 13:13 ![]()
既然你也知道RTA具有很多作用,那也应该知道RTA对于浅节外延的缺陷度有极端严格的要求才对~至于晶化,那可不是RTA而是PRPTA的工作。
没错,RTA的作用是很多,但并不能胡用瞎用,三温期的时间和温度的细微都会导致不同的输出结果。另外,RTA可不是激活扩散掺杂,因为RTA导致的空位向基体表面的反向快速扩散,基体内浅层的缺陷密度会大幅降低,扩散过程会在开始阶段因为扩散动力的急剧下降而停滞,也正是因为RTA对扩散的抑制作用,如果没有掌握好闪光退火以及双退火联合的次数,顺序,时间及温度等环节,仓促并且盲目的直接使用RTA纯属自杀的行为,这才是常识。 |
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