|
从英特尔的官方描述中我们可以看出,“B2”芯片的问题出在SATA 2.0接口控制电路的内置时钟发生器上。该接口控制电路的PLL中的一颗晶体管本来只需非常低的电压即可开关,但英特尔在设计中为它施加了过高的电压,导致漏出的电流偏高,进而影响链接SATA 2.0接口设备的性能。而且,随着时间的推移,漏出的电流可能会越来越高,性能影响会越来越明显,最终导致接口彻底故障。换句话说,“B2”相比“B3”平台在磁盘性能上可能有缺陷。不过英特尔指出,用户在正常使用的情况下,“B2”芯片出现故障的可能性3年内仅5%。如果真是这样,那么短期的测试和对比显然很难发现问题。好在英特尔又在随后的一次采访中承认,更高的工作温度和频率将增高问题发生的概率(事实上,问题芯片就是在高温高负载的极限环境下被发现的),为对比带来了可能性。/ ?; B& I: p) ^, Z. ]- w/ r8 g! o# X
由此判断,只要人品不太差,3年后2手出掉就可以了。而且根据测试,并没有发现新的B2比B3磁盘性能差,但是时间长会不会就不知道了。 |
|