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原帖由 灰大狼 于 2007-8-5 22:46 发表
硬盘盘片的制作是在铝盘片上涂磁性材料,所以都会有缺陷区,一般硬盘盘片上的区域可以划分为三个部分,可见容量区、缺陷区、备用区!
也就是说,一块单碟容量160G的硬盘,实际上只是可见容量是160G,缺陷区 ...
的确不可预知缺陷区在盘片上的位置,但是如果有相当数量的成品硬盘,其缺陷区都主要集中在外沿,那么可以说,这个厂家对于产品控制是极其失败的,已经严重影响硬盘的性能。
但从众多客户的测试图来看,只要是firmware相同的同代盘,传输率曲线不会有太大的差异,由此可以推断,对于绝大多数的成品硬盘,其缺陷区的分布不至于影响全盘的性能,又或者,真的是产品控制及其实失败,绝大多数的成品硬盘的缺陷区都集中在盘片外沿,因此,无论其产品控制是成功或失败,都不影响我的推断,因为缺陷区在外沿的集中度还远没有大至影响到整个操作系统那么大的空间的平均性能,又或者,绝大多数成品硬盘的外沿都是废的,那样就可以看作将绝大多数成品硬盘的外沿内移。 |
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