|
Gate-last是用于制作金属栅极结构的一种工艺技术,这种技术的特点是在对硅片进行漏/源区离子注入操作以及随后的高温退火工步完成之后再形成金属栅极;与此相对的是Gate-first工艺,这种工艺的特点是在对硅片进行漏/源区离子注入操作以及随后的退火工步完成之前便生成金属栅极。
由于退火工步需要进行数千度的高温处理,而Gate-last工艺则可令金属栅极避开高温退火工步,因此相比Gate-first工艺而言,前者对用于制作金属栅极的金属材料要求更低,不过相应的工艺技术也更复杂,Intel便是Gate-last工艺的坚定支持者,而IBM/AMD则将采用Gate-first工艺制作32nm制程金属栅极。intel 的gate last 的工艺,虽然复杂了点,但是我想当初开发的时候,不可能没有想到,从三明治的角度来比喻,intel的gate因为侧面也保护起来,似乎更加能够防止漏电。
而且从图片来看,intel到从45nm开始,gate 做的越来越工整。就我个人的认知,Gate last整合比较方便,而且Vt失谐也有保证,Metal Gate避开了高温process,量产整体稳定性也是有保证的,唯一的问题还是在于成本.
就Metal gate fill in而言,Intel用的是Al,大可以换成W, gap fill能力基本没大问题而且WCVD/WCMP是很成熟的process了,大不了阻值比Intel Al高一些,但是比IBM的metal/poly/NiSi低是肯定的
所以目前而言,Foundry端,T跟U选的都是Gate last,最主要的考量还是稳定性,C跟S没什么好说的,给IBM上贡自然是Gate first.
其实最重要的一点,Gate last Intel已经当过小白鼠了,至少证明是可以大规模量产的, T跟U选择gate last,不无这方面的考虑. |
|