个人持不同意见，评“三碟六头！808.8GB反被聪明误”

bww

感谢拳头认真回帖...

继续探讨，屏蔽少量扇区当然不至于影响读写性能，可800G相对1000G，屏蔽掉的是200G的容量，折成扇区数量则是400亿个，如果这400亿个扇区是分散的，那必然会影响寻道速度，如果是持续的， ...
古墓雷神 发表于 2009-5-2 15:38

我乱猜一下：
一般盘片，读写性能较差的在里圈，品质较差的好像也是在里圈，如果屏蔽里圈的磁道容量，不但不会使硬盘性能下降，还会是硬盘的平均读写速度提高。
不知是否是这个方式！

visa_fine

808有不奇怪，IBM还出个14.4GB
昆腾还有5.2GB
  在硬盘没到80GB前，都会有个.x的。。。自从80Gb后开始都整数。
凡妮娅 发表于 2009-5-2 11:23

那时候是受单碟容量小的限制，和现在讨论的主题是两回事

itany

我乱猜一下：
一般盘片，读写性能较差的在里圈，品质较差的好像也是在里圈，如果屏蔽里圈的磁道容量，不但不会使硬盘性能下降，还会是硬盘的平均读写速度提高。
不知是否是这个方式！
bww 发表于 2009-5-2 16:12

里圈是读写速度较慢，这个是由于硬盘是恒角速度造成的，数据密度相同，外圈线速度大，读写速度就快
品质和内外圈无关

fishman

感谢拳头认真回帖...

继续探讨，屏蔽少量扇区当然不至于影响读写性能，可800G相对1000G，屏蔽掉的是200G的容量，折成扇区数量则是400亿个，如果这400亿个扇区是分散的，那必然会影响寻道速度，如果是持续的， ...
古墓雷神 发表于 2009-5-2 15:38

你还是没搞懂硬盘是怎么标注扇区存储的。

andre999

这样的硬盘我是不敢用

bww

里圈是读写速度较慢，这个是由于硬盘是恒角速度造成的，数据密度相同，外圈线速度大，读写速度就快
品质和内外圈无关
itany 发表于 2009-5-2 16:40

我是在推测为什么性能比1T绿盘高啊！
如果真的有那么多坏扇区，估计盘片根本就不能出厂。
所以坏扇区多一点，虽然不能用到334G了，但也不至于只有270G，为了确保性能，把多余的容量都在内道屏蔽，是否有可能啊？

patrick_4587

鄙视808.8g的硬盘，还专供内地和香港~~靠，消费者不是那么好糊弄的~~~

lysine1

lz你自己去买几个用用好了,这种怪容量还"特供"天朝的硬盘我是无胆去买

古墓雷神

我乱猜一下：
一般盘片，读写性能较差的在里圈，品质较差的好像也是在里圈，如果屏蔽里圈的磁道容量，不但不会使硬盘性能下降，还会是硬盘的平均读写速度提高。
不知是否是这个方式！
bww 发表于 2009-5-2 16:12

读写性能差的在里圈不错，不过里圈扇区品质如何没有定论吧？

其实我持有的观点和张广斌先生的分歧就在于，张先生认为808G是1000G屏蔽掉问题扇区的缺陷产品推出市场，而我认为是WD为了细分市场需要才推出的屏蔽容量的正常产品。同样是屏蔽，出发点不同决定了结果必然会有差别。

古墓雷神

你还是没搞懂硬盘是怎么标注扇区存储的。
fishman 发表于 2009-5-2 17:17

确实不太懂，还请这位具体说说...

古墓雷神

讨论了半天,大家怎么还都局限在技术层面?我个人觉得从市场营销的角度来看可能大家会有新的理解,比如说,是WD拿来对付HT的640和1T的,从容量和价格都正好卡在中间.....

至于屏蔽是否影响速度,只有在碟片品质不过关的 ...
ayuankawa 发表于 2009-5-2 23:06

我是赞同市场细分论的...

kinglinsf

分析得不错，但个人认为。两种假设都有可能，具体要去问问WD才知了。

scowj

这样的硬盘我是不敢用
andre999 发表于 2009-5-2 17:38

群众的眼睛雪亮啊

zhangyu_m

观望，价格不好，暂时不入硬盘

古墓雷神

看未来一两个月市场上会不会出现我预计的情况吧...

拳头

感谢拳头认真回帖...

继续探讨，屏蔽少量扇区当然不至于影响读写性能，可800G相对1000G，屏蔽掉的是200G的容量，折成扇区数量则是400亿个，如果这400亿个扇区是分散的，那必然会影响寻道速度，如果是持续的， ...
古墓雷神 发表于 2009-5-2 15:38

厂家对一些随机的坏扇区做屏蔽后，测试软件做寻道时间和随机、顺序读写时不会测出其中的变化。如果厂家对较大的一片扇区进行容量屏蔽，则会看出差别。

1，如果是随机的坏扇区，由于已经被屏蔽，不会因为读写这些坏扇区而导致测试速度变慢。
2，硬盘顺序读写时，在硬盘上实际也是隔一段读写一下（说是硬盘转的快了用这样的交叉音质会让硬盘更爽）。
3，外圈顺序读写速度快，内圈慢

因为上面这几个原因，测试软件进行随机或顺序读写测试时，反正扇区坏不坏磁头都要跳过数个扇区去读写数据，就算它坏了一半的容量磁头也只要读一个扇区跳一个扇区的读下去即可，和没坏时情况差不多。
至于成片屏蔽，比如厂家将外侧屏蔽了，最高顺序读写速度会下降，寻道时间则可能缩短，是最笨的办法。如果是屏蔽内圈，则最低顺序读写速度会提高，寻道时间也短，但如果厂家分成很多个区域去屏蔽，那还是看不出来。

古墓雷神

厂家对一些随机的坏扇区做屏蔽后，测试软件做寻道时间和随机、顺序读写时不会测出其中的变化。如果厂家对较大的一片扇区进行容量屏蔽，则会看出差别。

1，如果是随机的坏扇区，由于已经被屏蔽，不会因为读写这些 ...
2，硬盘顺序读写时，在硬盘上实际也是隔一段读写一下（说是硬盘转的快了用这样的交叉音质会让硬盘更爽）。
拳头 发表于 2009-5-4 10:58

拳头说的可是“间隔因子”？

根据几年前微型计算机上阿凡avan的一篇文章的结果，也是当时远望论坛很多网友一起探讨的结果，间隔因子在现在的硬盘上可以忽略了，也就是说，磁头读写操作的基本上是连续的扇区...

拳头

这倒是没看到，会不会是低格中不再加入交叉因子而是交给硬盘固件去管理了？