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哦,我以为你只是想知道) A7 ]9 r# \3 o) z* }
既然你那么想要测试,而且有手段测试
/ F& e# a0 b3 t* e" q* X那么麻烦你测试一下同一容量不同型号的电容在以下情况作为耦合电容的数据:1 W) a+ `$ u+ Z5 A, ]2 S8 X; Z2 s8 t& |
从20hz到20khz电信号在扫描情况下,各个电容对于20hz到20khz电信号的衰 ...; W; S. `; Y2 h& o) \5 O
酷风 发表于 2009-7-25 22:35 ![]() 2 h. l. \1 }; L4 s% g
我觉得你不用着急,有道理说道理
+ `4 J1 `: w+ V- `4 r4 H5 ?! \; ?我手上的资料,电解电容器在工作的时候充电是瞬时完成的,在电路里,只要充电完成,就能起到稳定的作用,我觉得实测的必要并不大,因为充电的过程超过了人感知的范围。
. W# ]* O; \+ r0 u' y) w; [现在问题就在于,你说有变化,都是来自于主观感受,这个东西就不好作为判断的依据了% O# c4 l, ^, ^/ X s$ X1 Q
我现在感兴趣的是你手上有没有客观数据支持,至少是理论数据也行 |
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